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PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱

  • 更新時(shí)間:2024-06-22

艾思荔PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)400Hrs運(yùn)轉(zhuǎn)。

品牌艾思荔/Asli產(chǎn)地進(jìn)口
加工定制

艾思荔PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)400Hrs運(yùn)轉(zhuǎn)。進(jìn)口耐高溫密封電磁閥,采用雙回路結(jié)構(gòu),保證壓力無(wú)泄露。整機(jī)配備超壓保護(hù),超溫保護(hù),一鍵泄壓,手動(dòng)泄壓多重安全保障裝置,在大程度上保證用戶(hù)的使用和安全。反壓門(mén)鎖裝置,在試驗(yàn)室內(nèi)部有壓力時(shí),試驗(yàn)箱門(mén)無(wú)法打開(kāi)。  

飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱控制系統(tǒng) 

1采用中國(guó)臺(tái)灣臺(tái)儀微電腦控制飽和蒸氣溫度(采用PT-100白金感溫體)。  

2、時(shí)間控制器采LED顯示器。  

3、采用指針顯示壓力表。  

4、微電腦PI。D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度  

5、手動(dòng)入水閥(自動(dòng)補(bǔ)水功能,可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn))。

<strong><strong>PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱</strong></strong>  飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱性能

1設(shè)定溫度+100℃~+132℃(飽和蒸氣溫度)  

2、濕度范圍蒸氣濕度  

3使用壓力1。5Kg~3。2Kg/cm2(內(nèi)桶設(shè)計(jì)耐壓4Kg/cm2)(壓力)  

4、時(shí)間范圍000Hr~999Hr  

5、加壓時(shí)間0。00Kg~1。04Kg/cm2約45分  

6、溫度波動(dòng)均勻度±0。5℃  

7、溫度顯示精度:0。1℃  

8、壓力波動(dòng)均勻度±02Kg  

飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱附配文件

1、系統(tǒng)全新保證書(shū),保固書(shū)  

2、采用中國(guó)臺(tái)灣臺(tái)儀微電腦控制飽和蒸氣溫度(采用PT-100白金感溫體)  

3、時(shí)間控制器采LED顯示器  

4、采用指針顯示壓力表。  

5、微電腦P。I。D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度。  

6手動(dòng)入水閥(自動(dòng)補(bǔ)水功能,可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn))。  

飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱材質(zhì):  

1、試驗(yàn)箱尺寸∮300mmxL500mm,圓型試驗(yàn)箱  

2全機(jī)外尺寸以實(shí)際為主(W*D*H)立式  

3、內(nèi)桶材質(zhì)不銹鋼板材質(zhì)(SUS#3163mm)  

4、外桶材質(zhì)不銹鋼板材質(zhì)(SUS#3161mm))  

5、保溫材質(zhì):巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫  

6、蒸汽發(fā)室加熱管:鰭片散熱管形無(wú)縫鋼管電熱器(表面鍍鉑,防腐蝕)

<strong><strong>PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱</strong></strong>

飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱安全保護(hù):  

1、進(jìn)口耐高溫密封電磁閥,采用雙回路結(jié)構(gòu),保證壓力無(wú)泄露。  

2、整機(jī)配備超壓保護(hù),超溫保護(hù),一鍵泄壓,手動(dòng)泄壓多重安全保障裝置,在大程度上保證用戶(hù)的使用和安全。  

3反壓門(mén)鎖裝置,在試驗(yàn)室內(nèi)部有壓力時(shí),試驗(yàn)箱門(mén)無(wú)法打開(kāi)。

PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱用途:使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),適合電子、電器、車(chē)輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。  

 

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